坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）是一種通過(guò)用探針感應(yīng)物體表面上的點(diǎn)來(lái)測(cè)量物體幾何形狀的設(shè)備。 Renishaw是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)生產(chǎn)領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者，并且最近宣布推出其SFP2，這種表面光潔度測(cè)量探頭設(shè)計(jì)用于坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上的REVO 5軸測(cè)量系統(tǒng)。新型SFP2探頭增加了REVO系統(tǒng)的表面光潔度測(cè)量能力; REVO系統(tǒng)在單個(gè)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上提供觸摸觸發(fā)，高速觸覺(jué)掃描和非接觸式視覺(jué)測(cè)量的多傳感器功能。

結(jié)合CMM的表面光潔度測(cè)量和尺寸檢測(cè)相對(duì)于需要單獨(dú)處理的更傳統(tǒng)檢測(cè)方法具有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。 SFP2的自動(dòng)化表面光潔度檢測(cè)由5軸測(cè)量技術(shù)提供支持，可節(jié)省大量時(shí)間，減少零件處理量，并獲得更高的CMM投資回報(bào)。 SFP2系統(tǒng)包括一個(gè)探頭和一系列模塊，并可與REVO提供的所有其他探頭選件自動(dòng)互換。這意味著用戶可以靈活地選擇他們需要的工具來(lái)檢查同一個(gè)CMM平臺(tái)上的各種功能。來(lái)自多個(gè)傳感器的數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)參考一個(gè)公共數(shù)據(jù)。

表面處理系統(tǒng)由與REVO系統(tǒng)相同的I ++ DME兼容界面管理，雷尼紹的MODUS計(jì)量軟件提供全面的用戶功能。

其他優(yōu)勢(shì)包括與標(biāo)準(zhǔn)CMM檢測(cè)程序完全集成的表面光潔度管理，這歸功于使用MRS-2機(jī)架和RCP TC-3端口自動(dòng)更換SFP2探針和觸針支架。 SFP2探頭利用REVO頭的無(wú)限定位和5軸移動(dòng)功能，以及一個(gè)整體式探頭C軸以及各種頭部幾何形狀和模塊與支架之間的關(guān)節(jié)連接，提供最難以觸及的特征。

雷尼紹的5軸REVO測(cè)量系統(tǒng)是CMM的唯一掃描系統(tǒng)，它可同時(shí)控制三個(gè)機(jī)床和兩個(gè)頭軸的運(yùn)動(dòng)，同時(shí)收集工件數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)上，表面測(cè)量是使用手持式傳感器進(jìn)行的，或者要求將零件移動(dòng)到專用測(cè)量機(jī)器上。 REVO系統(tǒng)使表面測(cè)量更容易，將其集成到CMM測(cè)量中，并允許用戶在掃描和表面光潔度測(cè)量之間切換。

憑借其2D和3D觸覺(jué)探頭，表面光潔度測(cè)量和非接觸式視覺(jué)探頭的范圍，REVO系統(tǒng)使得對(duì)CMMs的部件檢測(cè)更加快速和準(zhǔn)確。如果您想了解更多關(guān)于SFP2系統(tǒng)，其功能和優(yōu)點(diǎn)，以及它如何幫助您將表面光潔度檢測(cè)作為CMM程序的一部分，那么您可以在此處進(jìn)行。

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